粒度及Zeta电位测量【美国布鲁克海文、Omni（新产品）】

产品简介：

      Omni多角度粒度与高灵敏度Zeta电位分析仪结合了背向光散射技术与传统动态光散射技术以及硬件PALS（Phase Analysis Scattering，相位分析光散射）技术，拥有15°、90°与173°三个散射角度，突破了传统单角度光散射仪测量的局限性，硬件PALS技术解决了低电泳迁移率体系Zeta电位的精确测量，是一款强大的粒度与Zeta电位分析仪。

详细说明：

      Brookhaven公司应用全新的光纤技术将背向光散射技术与传统动态光散射技术进行了完美结合，突破性地推出了结合15°、90°与173°三个散射角度与硬件PALS（相位分析光散射）技术的Omni多角度粒与高灵敏度Zeta电位分析仪。随着Omni的出现，突破了传统单角度光散射仪测量的局限性，实现在同一台粒度分析仪中，既可以同时兼顾大、小颗粒的散射光信号，又可以有效地提高了测量浓度上限，最高可达50%wt；硬件PALS技术（与传统基于频移技术的光散射方法相比，灵敏度可提高1000倍）的应用，解决了长期以来无法对诸如在低介电常数、高粘度、高盐度以及等电点附近这些测量条件下（电泳迁移率比通常水相条件下低10－1000倍，传统方法没有足够的分辨率进行测量）的样品进行分析的难题。